日本napson4探針法測量儀
產(chǎn)品名稱: 日本napson4探針法測量儀
產(chǎn)品型號: RT70V系列
產(chǎn)品特點: 日本napson4探針法測量儀它是測量儀(RT-70V)和測量臺的組合測量儀。
日本napson4探針法測量儀 的詳細(xì)介紹
日本napson4探針法測量儀
測量儀:RT-70V>
- 使用JOG撥盤,厚度,溫度,PN輸入(RT-70V測試儀),易于操作
- 自檢功能,自動量程切換,4種測量模式
- 具有厚度/溫度補償功能(用于硅)
<測量階段>
*根據(jù)目的和用途,可以從以下選擇測量階段。
- (1)RG-7C [產(chǎn)品圖片左上]:電機自動上下探針臺
- (2)RG-5 [產(chǎn)品圖像左下方] :帶手動手柄的探針上下平臺
- (3)RG-7S [產(chǎn)品圖片右上]:用于玻璃基板/薄膜樣品的XY工作臺
- (4)TS-7D [產(chǎn)品圖像右下] :便捷的探頭類型*平臺板是可選的。
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)
- 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
- 擴散樣本
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他(*請與我們聯(lián)系)
測量尺寸
*組合測量取決于舞臺類型。
圓形:?300mm(12英寸),方形:?730x920mm,可廣泛使用。
測量范圍
[電阻(電阻率)]1μ?300kΩ? cm
[板電阻] 5m?10MΩ/ sq
測量儀:RT-70V>
- 使用JOG撥盤,厚度,溫度,PN輸入(RT-70V測試儀),易于操作
- 自檢功能,自動量程切換,4種測量模式
- 具有厚度/溫度補償功能(用于硅)
<測量階段>
*根據(jù)目的和用途,可以從以下選擇測量階段。
- (1)RG-7C [產(chǎn)品圖片左上]:電機自動上下探針臺
- (2)RG-5 [產(chǎn)品圖像左下方] :帶手動手柄的探針上下平臺
- (3)RG-7S [產(chǎn)品圖片右上]:用于玻璃基板/薄膜樣品的XY工作臺
- (4)TS-7D [產(chǎn)品圖像右下] :便捷的探頭類型*平臺板是可選的。
測量規(guī)格
測量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)
- 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線等)
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
- 擴散樣本
- 硅基外延離子注入樣品
- 其他(*請與我們聯(lián)系)
測量尺寸
*組合測量取決于舞臺類型。
圓形:?300mm(12英寸),方形:?730x920mm,可廣泛使用。
測量范圍
[電阻(電阻率)]1μ?300kΩ? cm
[板電阻] 5m?10MΩ/ sq
日本napson4探針法測量儀