日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
產(chǎn)品名稱(chēng): 日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
產(chǎn)品型號(hào): RG-100PV
產(chǎn)品特點(diǎn): 日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置玻璃基板上薄膜的四探針?lè)ò胱詣?dòng)測(cè)量?jī)xXY軸機(jī)構(gòu)臺(tái)平面內(nèi)多點(diǎn)測(cè)量配備了均勻螺距或隨機(jī)螺距設(shè)置選擇以及2-D ??/ 3-D映射軟件。
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置 的詳細(xì)介紹
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)
- 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線(xiàn)等)
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
- 擴(kuò)散樣品硅基薄膜(LTPS等),IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的(GaAs,Epi,GaN,Epi,InP,Ga等)
- 其他(*請(qǐng)與我們聯(lián)系)
測(cè)量尺寸
大300 x 300毫米(選件;大500 x 500毫米)
測(cè)量范圍
[電阻(比電阻)] 1m至200Ω·cm
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq(選件;?10MΩ/ sq)
測(cè)量規(guī)格
測(cè)量目標(biāo)
- 與半導(dǎo)體/太陽(yáng)能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)
- 新材料/功能材料(碳納米管,DLC,石墨烯,銀納米線(xiàn)等)
- 導(dǎo)電薄膜相關(guān)(金屬,ITO等)
- 擴(kuò)散樣品硅基薄膜(LTPS等),IGZO
- 硅基外延離子注入樣品
- 與化合物半導(dǎo)體有關(guān)的(GaAs,Epi,GaN,Epi,InP,Ga等)
- 其他(*請(qǐng)與我們聯(lián)系)
測(cè)量尺寸
大300 x 300毫米(選件;大500 x 500毫米)
測(cè)量范圍
[電阻(比電阻)] 1m至200Ω·cm
[片電阻] 1m至1,000kΩ/ sq(選件;?10MΩ/ sq)
映射圖像
日本napson平板電阻薄層電阻測(cè)量半自動(dòng)裝置