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產(chǎn)品資料
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日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀

產(chǎn)品名稱: 日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
產(chǎn)品型號: Cresbox
產(chǎn)品特點: 日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀
測量模式可編程和圓形/方形測量兼容的繪圖軟件
自檢功能，測量范圍廣
厚度/周邊位置/溫度補償功能（硅）
薄層電阻/金屬膜厚顯示功能

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀 的詳細介紹

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀

 

 

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

  • 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
  • 其他（*請與我們聯(lián)系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm

 

測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

  • 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
  • 其他（*請與我們聯(lián)系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm

 

測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

  • 與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料（硅，多晶硅，SiC等）
  • 新材料/功能材料（碳納米管，DLC，石墨烯，銀納米線等）
  • 導(dǎo)電薄膜相關(guān)（金屬，ITO等）
  • 擴散樣品硅基外延離子注入樣品
  • 其他（*請與我們聯(lián)系）

測量尺寸

?8英寸，或?156x156mm

 

測量范圍

[電阻（比電阻）] 1m至300kΩ·cm 
[板電阻] 5m至10MΩ/ sq

日本napson半自動4探針薄層電阻測試儀

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聯(lián)系人：林經(jīng)理
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