日本進口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
模組 | |
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傳輸脈沖類型 | 方波脈沖(40 ns至1μs,10 ns步進) |
發(fā)射脈沖電源電壓 | 12、48、96伏 |
硬件過濾器 | 0.5-10 MHz高通濾波器 |
硬件掃描存儲器 | 高達8,000點 |
HW B掃描存儲器 | 膏32,000點(自動壓縮)至62K點(可選) |
波形顯示 | 全波,RF波 |
頻帶 | 0.25-10兆赫 |
增益設(shè)定 | 0至80 dB 0.1 dB步長(大值取決于同時激發(fā)的數(shù)量) |
可用元素數(shù) | 128 |
同時激發(fā)數(shù) | 多128 |
循環(huán)數(shù) | 高達512 |
重復(fù)頻率(PRF) | ?43 kHz(小23 µs) |
采樣頻率 | 50 MHz / 10位 |
DAC功能 | 膏14分 |
電源電壓 | 交流85?265 V |
軟件 | |
兼容探頭 | 扁平,聚焦,環(huán)形矩陣探頭,TRL矩陣探頭 |
聚焦方式 | 深度位置,光路,底部參考深度位置,散焦(擴散)(僅用于體積聚焦傳輸) |
延遲模式 | 延遲范圍0至40.94 µs DDF,多14點 |
顯示范圍 | A,B,C,D,S范圍 |
聲速設(shè)定 | 100-10000米/秒 |
瞄準鏡 | 中頻門跟蹤功能 |
軟件收益 | 記錄數(shù)據(jù)的增益增加功能 |
多可并行驅(qū)動128個元件
通過增加同時使用的元件數(shù)量,提高了光束聚焦能力,并且還增加了掃描圖案。
線性掃描
部門掃描
區(qū)域重點
動態(tài)深度聚焦
體積聚焦技術(shù)(磚立3704065)
鑫的相控陣技術(shù)可實現(xiàn)高速,高分辨率的缺陷檢測。
可以使用各種探針檢測缺陷
除了普通的線性探針,我們還使用矩陣探針和細間距探傷實現(xiàn)了更細的束斑尺寸。通過使用不同的探針可以在各種情況下進行檢查。
線性探針
年度矩陣探測
方陣探頭
體積聚焦技術(shù)是我公司開發(fā)的相控陣超聲探傷技術(shù)(磚立3704065)。常規(guī)的相控陣掃描方法如下。
另一方面,體積聚焦是一種可以立即掃描整個橫截面(例如樣品體積)的新方法。通過同時激發(fā)所有元素來創(chuàng)建一個不分散的平面波。
每個平行的元素都從底面,夾雜物,缺陷等處接收反射的脈沖能量。然后,并行數(shù)字硬件處理實時創(chuàng)建B掃描和C掃描。
從概念上講,體積焦點類似于DDF,但體積焦點可以覆蓋所有橫截面或體積,而不僅僅是沿深度軸。
日本進口KJTD相控陣超聲波探傷儀FlashFocus
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