日本DENSOKU電測(cè)膜厚測(cè)試儀QNIx系列

日本DENSOKU電測(cè)膜厚測(cè)試儀QNIx系列

更容易測(cè)量麻煩的薄膜厚度
便攜式薄膜厚度計(jì)，提高生產(chǎn)效率

 QNIx系列產(chǎn)品只需一個(gè)超輕便的緊湊型儀器和探頭即可測(cè)量薄膜厚度，無需攜帶厚膜厚度計(jì)。
無線測(cè)量無電纜。 測(cè)量數(shù)據(jù)可以很容易地傳輸?shù)絺€(gè)人計(jì)算機(jī)，并有助于防止測(cè)量期間墜落事故。

QNIx系列的特點(diǎn)
無需膠片校準(zhǔn)即可精確測(cè)量薄膜厚度

提供出廠時(shí)輸入的16點(diǎn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)。這消除了對(duì)麻煩的膠片校準(zhǔn)工作的需要并且能夠進(jìn)行精確的膜厚度測(cè)量。

薄膜厚度測(cè)量數(shù)據(jù)傳輸?shù)男录夹g(shù)

傳統(tǒng)的測(cè)量儀器通過將測(cè)量儀器和PC與電纜連接來傳輸測(cè)量數(shù)據(jù)。 QNIx系列使用“無線Dongle”，只需將其插入U(xiǎn)SB端口即可進(jìn)行傳輸?？梢钥焖佥p松地查看測(cè)量數(shù)據(jù)。

超輕型無線測(cè)量儀器

探頭測(cè)量的數(shù)據(jù)無線傳輸?shù)街鳈C(jī)。降低像常規(guī)產(chǎn)品一樣被抓住或妨礙并導(dǎo)致事故的風(fēng)險(xiǎn)。此外，探頭重30克，無需攜帶重型儀器。

探頭難以斷裂，不會(huì)在工件上留下痕跡

QNIx系列探頭被增強(qiáng)塑料包圍，耐用性提高了30％。即使它發(fā)生故障，也可以輕松拆卸和維修，縮短維修周期。此外，還附有紅寶石芯片，可在不損壞樣品（樣品）的情況下進(jìn)行安全測(cè)量。

便攜式薄膜厚度計(jì)型號(hào)代碼指導(dǎo)

[F]黑色金屬材料的非磁性薄膜厚度測(cè)量

[N]對(duì)有色金屬材料的非導(dǎo)電薄膜厚度測(cè)量

[FN]使用單個(gè)探針測(cè)量黑色和有色金屬材料的薄膜厚度

[T]微探針

[M]測(cè)量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)功能，數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C