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技術(shù)文章

評估超導(dǎo)限流裝置薄膜的導(dǎo)熱性技術(shù)

評估超導(dǎo)限流裝置薄膜的導(dǎo)熱性技術(shù)

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為傳熱仿真提供可靠的實際測量

薄膜熱穿透率為 1770 Jm-2s-0.5K-1獲取的值。 這是體透熱率1420~2200 Jm-2s-0.5K-1評估為等效。

模擬熱損傷的超導(dǎo)薄膜樣品的熱滲透性評估示例國家先進(jìn)工業(yè)科學(xué)技術(shù)研究所 (AIST) 測量標(biāo)準(zhǔn)

通過激光施加局部加熱損傷來測量YBCO薄膜表面的熱滲透率分布的圖像

通過用加工激光器對THEVA制造的YBCO薄膜表面施加局部熱損傷來測量熱滲透的分布。 在熱損傷區(qū)域確認(rèn)熱滲透率下降(約2%)。 S.池內(nèi)等. J.Cryo. Soc. Jpn 40 335(2005)

評估涂層在樣品表面的熱滲透性茨城大學(xué)工學(xué)部

可以評估結(jié)構(gòu)構(gòu)件耐熱涂層的熱滲透率。 硬質(zhì)合金刀具涂層的熱滲透率可以用同樣的方式進(jìn)行評估。


評估涂層在樣品表面的熱滲透性
評估涂層在樣品表面的熱滲透性
評估涂層在樣品表面的熱滲透性

半導(dǎo)體激光電極熱滲透率分布圖

半導(dǎo)體激光電極熱滲透率分布圖
可以掌握薄膜引起的散熱特性變化

我們可視化了由于絕緣層而導(dǎo)致的散熱減少。 通過熱滲透率的分布圖像一目了然。



設(shè)備介紹

熱物理性能測量裝置熱波分析儀 TA35/33/32/31

熱物理性能測量裝置熱波分析儀
TA35/33/32/31

樣品形狀具有高自由度,允許您規(guī)定測量點。 可以測量從有機(jī)薄膜到鉆石的廣泛范圍的熱擴(kuò)散率(熱導(dǎo)率)。 可以測量水平和垂直方向,因此您可以檢查樣品的各向異性。

穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測量裝置SS-H40

穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測量裝置穩(wěn)態(tài)熱導(dǎo)率測量裝置

它是一種多功能和高性能的設(shè)備,超越了傳統(tǒng)的“穩(wěn)態(tài)"熱導(dǎo)率測量設(shè)備。 使用傳統(tǒng)設(shè)備需要數(shù)小時的測量時間減少到10~20分鐘。 此外,還提供兩種測量模式:“恒定負(fù)載模式"和“恒定厚度模式",以對樣品加壓。 它可以應(yīng)用于軟材料,如TIM。

纖維取向評估系統(tǒng) TEFOD

纖維取向評估系統(tǒng)FOD的熱評估

可以掌握碳纖維增強(qiáng)塑料(CFRP),玻璃纖維增強(qiáng)塑料(GFRP),納米纖維素等的內(nèi)部纖維狀態(tài)(纖維取向和纖維量的相對比較)。 此外,由于它可以量化和量化,因此可用于開發(fā)過程中的評估和質(zhì)量控制。

熱物理顯微鏡 熱顯微鏡 TM3

熱物理性能顯微鏡熱顯微鏡 TM3

透熱性由點、線和表面測量。
可以非接觸式測量“納米薄膜"和“微米區(qū)域",這是傳統(tǒng)熱物理性能測量設(shè)備難以實現(xiàn)的。 此外,對于熱物理特性的分布測量,可以進(jìn)行微米量級的測量。 測量目標(biāo)范圍從薄膜到散裝材料。

熱傳播檢測系統(tǒng)TSI熱成像示波器

熱傳播檢測系統(tǒng)熱成像示波器TSI

針對電子設(shè)備的功耗問題,我們通過可視化器件內(nèi)部熱特性的相對數(shù)值來評估界面的熱擴(kuò)散率。 配備高性能紅外攝像機(jī)。 降噪技術(shù)。 它可用于評估裂紋空隙。



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