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技術(shù)文章

日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹

日本Kurabo Industries 的薄膜厚度檢測儀介紹

紅外光譜廣泛用于化學(xué)成分的定性/定量分析。
Kurabo Industries 的薄膜厚度計是一種帶有所謂“化學(xué)眼"的測量儀器,它針對您想要使用這種紅外技術(shù)測量的層和組件。

塑料薄膜生產(chǎn)線介紹實例







我們提供使用 T 型模具進(jìn)行厚度控制所需的
高精度厚度信息。

不僅可以測量鋰離子電池的隔膜基膜,還可以分別測量各層的各種耐熱涂層的厚度。

測量應(yīng)用

  • LIB隔膜基膜基重

  • LIB 隔離層厚度

  • 以上同時測量

  • 濕法/干法過程中各種微量成分的測量

RX-4100

image.png

測量規(guī)格
光度法紅外線吸收法
光譜法旋轉(zhuǎn)過濾方式(可安裝6張)
測量距離20mm(兩個傳感器頭之間:40mm)
測量區(qū)域20 x 30 mm(橢圓形)RX-4000:2 個點,RX-4100:1 個點
機(jī)身規(guī)格
傳感頭
  • RX-4100 外形尺寸:泛光傳感器410(W)x 164(D)x 190(H)(不包括突起) 受光
    傳感器410(W)x 164(D)x 160(H)(不包括突起)

RX-4100 重量:泛光燈傳感器10.4kg,光接收傳感器8.6kg
繼電器單元外形尺寸:322(W)x 140(D)x 113(H)(不包括突出部分)
重量:4公斤
電源:AC100V±10% 50 / 60Hz 200VA
外部輸出RS422A (9600BPS) 數(shù)字輸出至上位機(jī)
工作溫度5-40°C(無冷凝,35°C以上環(huán)境需要空氣吹掃)





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