專用于薄膜厚度檢測設(shè)備-在線薄膜測厚儀FT-A200R

模型：FT-A200 標準型/ FT-A200R 薄膜型
（FT-A100的后繼型號）

帶有高精度測量頭和放大器單元的機器

* 1線性度是

　　顯示是否可以與測量頭的位移量成比例顯示的比率?！　?/p>

位移量

　為±0.2％

/ 100μm±0.2μm

　　位移量/ 500μm±1μm

　　位移量/ 1000μm±2μm

　?。y量誤差因位移量而異）

* 2根據(jù)被測物體的材質(zhì)，測量范圍可能會改變。

• 重復性/ 0.05μm

  （使用升降器重復上下觸控筆）

• 測量分辨率/ 0.01μm

• 線性度/±0.2％*　1

  （它是測量頭的精度）

日本富士fujiwork薄膜連續(xù)測厚儀FT-A200

• FT-A200測量范圍/ 10μm至200μm * 2

  FT-A200R測量范圍/ 3μm至100μm * 2

• 測量壓力/ 0.3N（標準）可以改變測量壓力

• 主機/放大器單元/測量頭配置

• 輸出/模擬和RS232C

• 尺寸/ 260（H）x 300（W）x 309（D）*主體

• 重量/約10公斤*主體

• 電源/ AC100-240V

• 選件/

  ?軟件?數(shù)據(jù)記錄器?更換筆

  ? PC ?圖表打印機